晶體學的基本理論

晶體學的基本理論

普通顯微成像的原理是利用光學透鏡組匯聚來自待觀測的物體的可見光，進行多次成像放大。然而，可見光的波長通常要遠大于固體中化學鍵的鍵長和原子尺度，難以與之發生物理光學作用，因此晶體學觀測學要選擇波長更短的輻射源，如X射線。但一旦使用短波長輻射源，就意味著傳統的“顯微放大”和“實像拍攝”方法將不能（或難以）應用到晶體學研究中，因為自然界沒有材料能制造出可以匯聚短波長射線的透鏡。所以要研究固體中原子或離子（在晶體學中抽象成點陣）的排列方式，需要使用間接的方法——利用晶格點陣排列的空間周期性。
晶體具有高度的有序性和周期性，是分析固體微觀結構的理想材料。以X射線衍射為例，被某個固體原子（或離子）的外層電子散射的X射線光子太少，構成的輻射強度不足以被儀器檢測到。但由晶體中滿足一定條件（布拉格定律，Bragg's law）的多個晶面上的原子（或離子）散射的X射線由于可以發生相長干涉，將可能構成足夠的強度，能被照相底片或感光儀器所記錄。